Bruit en créneaux

Le bruit en créneaux est aussi appelé burst noise, ou bruit popcorn, ou crépitement. Il a été découvert lors du développement de l'un des premiers amplificateurs opérationnels : le 709.



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  • Ce bruit électronique est aussi nommé en anglais shot noise.... Bruit d'avalanche; Bruit en créneaux ; Bruit flicker; Bruit thermique; Bruit grenaille... (source : dictionnaire.sensagent)

Le bruit en créneaux est aussi appelé burst noise, ou bruit popcorn, ou crépitement. Il a été découvert lors du développement de l'un des premiers amplificateurs opérationnels : le 709. Il s'agit principalement de créneaux de tension (ou de courant) dont l'amplitude couvre de moins d'un microvolt à plusieurs centaines de microvolts. L'intervalle entre les créneaux est de l'ordre de la miliseconde [1]. Le bruit en créneaux, dans un amplificateur audio, produit des «pops» qui lui ont valu le nom de bruit popcorn[2]. La naissance de ces «pops» est aléatoire : ils peuvent se manifester plusieurs fois par seconde puis disparaître pendant plusieurs minutes.

Les origines de ce bruit ne sont pas aujourd'hui connues, mais il semble qu'elles soient liées à des imperfections dans les semi-conducteurs ainsi qu'à l'implant d'ions lourds [3], [4]. Les conditions les plus favorables à la naissance de ce bruit semblent être de basses températures et la présence de résistances de forte valeur[1].

La plus grande partie du spectre de ce bruit se situe dans le domaine des fréquences audibles (de quelques centaines de Hz à quelques dizaines de kHz). La densité spectrale de puissance est de la forme suivante :

D_b=K\frac{Iˆ\gamma}{1+(f/f_c)ˆ2}

Le cœfficient γ est compris entre 0, 5 et 2 la fréquence de coupure fc et la constante K sont des caractéristiques du composant.

Notes et références

  1. (en) Intersil Application note 509 : Operational Augmenter Noise Prediction (PDF)
  2. (en) Random Telegraph Signals — Review of Noise in Semiconductor Devices and Modeling of Noise in Surrounding Gate MOSFET, Bipin Rajendran
  3. (en) Texas Instruments application report slva043 : Noise Analysis In Operational Augmenter Circuits (PDF)
  4. (en) Noise Sources in Bulk CMOS (PDF) — Kent H. Lundberg


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